안녕하세요. 플라즈마 응용연구실 박사과정생 이하늘, 이인규 입니다. 저희 연구실 홈페이지에 질문 주시어 감사합니다.

질문 주신 내용을 플라즈마 발생을 위한 RF power 인가 상황에서 gas flow 의 점진적 증가 조건과 단번에 set flow rate 으로의 도달 조건에서의 차이에 관한 질문으로 이해한 후 아래 답변을 준비했습니다.

RF power 의 reflection 은 Rf power supply 의 출력 안정성 및 auto matcher 의 preset position, 매칭 알고리즘(소요 시간) 등에 의해 크게 의존합니다. 따라서 RF power supply 에 문제가 없다는 가정 하에 gas flow 의 ramping 형식이 RF power 의 haunting 성 reflection 발생에 영향을 미쳤다는 말씀은 특정 gas flow ramping 조건에서 matcher 의 matching 성능이 우수했음을 의미합니다. 한편 matching condition(position) 은 챔버 및 플라즈마의 임피던스에 크게 의존합니다. 특히 플라즈마 임피던스는 전자 밀도 및 전자-중성기체 충돌 주파수에 의존도가 크므로, 말씀하신 gas flow 의 ramping 형식은 방전 초기 플라즈마 압력을 결정하여 전자-중성 기체 충돌 주파수 변화에 기여했을 것으로 예상됩니다. 이는 플라즈마 임피던스에 영향을 미쳐 결과적으로는 auto matcher 가 matching position 을 수월하게 만족시키는 조건으로 변화한 결과일 것으로 예상이 됩니다.

섣불리 단정 짓기는 어렵지만, RF power 인가 및 가스 flow ramping 동작 간 matcher 데이터를 포함한 시계열 장비 데이터를 관찰하시면 힌트를 얻으실 수 있지 않을까 사료됩니다.

추가로 질문하실 사항 있으시면 댓글 남겨주시면 답변드리겠습니다. 감사합니다.