Plasma Source plasma 형성 관계

2022.02.04 11:47

윤용인 조회 수:1512

안녕하세요 반도체 공정에서의 plasma에 대해 이해가 가지 않는 부분이 있어 글을 작성하게 되었습니다.

 

적절한 공정 압력, 공정 방식을 통하여 플라즈마를 형성한다고 알고 있습니다.  + RF를 이용한 충돌 횟수 증가 

이에 pump를 이용하여 진공 상태에서 gas를 주입하여 플라즈마 환경을 조성하는 것은 알고 있으나

 

온도 조절을 통해 plasma 환경을 조성하는지도 궁금합니다. plasma를 형성하기 위해 많은 에너지가 필요하고, 이에 대해 열 에너지가 필요하나, RF와 공정 압력으로 대신한다. 이렇게 보면 될까요? 

 

온도의 경우, chuck heater를 사용하여 chuck 위의 wafer에서의 화학반응을 촉진하여, CVD의 경우 보다 좋은 step coverage를 , etch의 경우 보다 좋은 etch rate를 위해 사용한다. 이 정도로 알고 있는데 이 것이 아닌 chamber의 온도 조절을 통하여 반도체 공정에서의 plasma 형성에 영향을 미치는지 궁금합니다. 

 

pump를 이용하여 MFP를 조절, 플라즈마 밀도의 조절 

온도를 이용하여 화학적 반응성 촉진

RF를 이용하여 전자의 충돌 빈도를 높여, 낮은 압력에서도 적절한 plasma 밀도 형성 

 

이렇게 보면 되는지 궁금합니다.

 

1) RF의 경우, 13.56 mhz의 주파수를 통하여, shower head로 나가 ground로 향하면서 e- field가 형성되고, 이에 자유 전자의 움직임이 형성되어 충돌로 인한 plasma 형성 : 이 설명이 맞는지 궁금합니다. 

 

2) 13.56mhz가 아닌 주파수를 변경하게 되면 plasma 형성에 어떤 영향을 끼치는지 궁금합니다. 공정에 따라 plasma 밀도를 변경하는 것일까요? 시중에 13.56mhz에 대한 설명밖에 없어 여쭙습니다.

 

부족한 글 솜씨에, 부족한 전자공학적 지식이지만 명쾌한 해결법을 얻지 못하여 글 남기게 되었습니다.  

번호 제목 조회 수
공지 [필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내 [268] 76721
공지 Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법 20172
공지 개인정보 노출 주의 부탁드립니다. 57165
공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 68696
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 92273
159 RF magnetron Sputtering 공정에서의 질문 [1] 29
158 Impedance I 값을 결정 짓는 요소 관련 질문 [1] 76
157 RF 반사와 전기에서 쓰이는 무효전력 반사 차이점이 궁금합니다. [1] 80
156 반사파에 의한 micro arc 질문 [2] 83
155 CF4/Ar 을 활용한 Si/SiO2 에칭에 관한 질문입니다. [1] file 104
154 ICP에서의 Self bias 효과 [1] 119
153 skin depth에 대한 이해 [1] 122
152 ICP에서 전자의 가속 [1] 134
151 파장길이와 동축 케이블 길이 관련 문의드립니다 [2] 145
150 CCP장비 discharge 전압 및 전류 측정 방법 과 matcher 문제 관하여 [2] file 158
149 대기압 플라즈마 문의드립니다 [1] 248
148 플라즈마 에너지가 온도를 높혀주는 역할 [1] 318
147 ICP 방식에서 RF Foward Power를 상향하면 ER이 빨라지는 이유 [1] 351
146 H-field 측정위치에 따른 H Field MAP 변화 관련 [1] 434
145 안녕하세요 CLEAN GAS 관련 질문이 있습니다. [1] 436
144 Tribo-Plasma 에 관해서 질문드리고 싶습니다. 469
143 plasma striation 관련 문의 [1] file 470
142 수중방전에 대해 질문있습니다. [1] 501
141 Plasma에 의한 분해 및 치환 반응(질문) [1] 513
140 해수에서 플라즈마 방전 극대화 방안 [1] file 516

Boards


XE Login