Monitoring Method charge effect에 대해

2019.03.20 11:10

리미 조회 수:1465

안녕하세요

저는 SiO2 기판을 홀더 위에 두고 수소플라즈마를 띄워 실험을 진행하는데

이 기판이 부도체이다보니 기판에 전하가 빠져나가지 못하고 축적되는 것 같습니다.

이 기판의 charge effect를 챔버안 플라즈마를 띄운 상태에서 어떤 장비를 사용하여 실험적으로 어떻게 측정할 수 있는지 혹은 관련 논문이 있는지 알고싶습니다.

답변기다리고 있겠습니다. 감사합니다.

번호 제목 조회 수
공지 [필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내 [268] 76711
공지 Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법 20163
공지 개인정보 노출 주의 부탁드립니다. 57163
공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 68686
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 92247
43 ISD OES파형 관련하여 질문드립니다. [1] 435
42 OES를 통한 공정 개선 사례가 있는지 궁금합니다. [1] 586
41 플라즈마 진단 OES 관련 질문 [1] 714
40 OES를 이용한 Gas Species 정량적 분석 방법 [1] 755
39 OES 파장 관련하여 질문 드립니다. [1] 603
38 OES 분석 관련해서 질문드립니다. [1] 1361
37 CF3의 wavelength가 궁금해서 질문드립니다. [1] 703
36 Etcher Chamber Wall에 의도적으로 Polymer를 증착시키고 싶습니다. [2] 3321
35 [질문] Plasma 장비에 대한 Monitoring 질문 [2] 1371
34 EEDF, IEDF, Cross section관련 질문 [1] 1642
33 Langmuir probe의 위치에 관한 질문입니다. [3] 1348
32 Wafer particle 성분 분석 [1] 2318
» charge effect에 대해 [2] 1465
30 Plasma 발생영역에 관한 질문 [2] 1453
29 고전압 방전 전기장 내 측정 [1] file 1063
28 I-V characteristic에 관하여 질문이 있습니다. [1] 1315
27 OES 원리에 대해 궁금합니다! [1] 26110
26 langmuir probe관련하여 질문드리고 싶습니다. [1] file 1015
25 VI sensor를 활용한 진단 방법 [2] 2870
24 플라즈마 진단에서 rogowski 코일 관련 질문 드립니다. [1] 1319

Boards


XE Login