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공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 69691
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 94588
15 DRAM과 NAND 에칭 공정의 차이 ["플라즈마 식각 기술"] [1] 5659
14 SiO2 식각 위한 Remote Plasma Source관련 질문 드립니다. [반응성 기체 생성] [1] 5712
13 SiO2를 Etching 할 시 NF3 단독 보다 O2를 1:1로 섞을시 Etching이 잘되는 이유 [ER과 energy transport] [1] file 6273
12 RPS를 이용한 NF3와 CF4 Etch Rate 차이 [물리적/화학적 세정] [4] 6493
11 안녕하세요. O2 plasma etching에 대해 궁금한 것이 있습니다. [Bias power] [1] 7322
10 에칭후 particle에서 발생하는 현상 9634
9 ICP와 CCP의 차이 [Self bias와 Maxwellian distribution] [3] 12740
8 ICP 식각에 대하여… [Electronegative plasma] 16995
7 안녕하세요 반도체 공정 중 용어의 개념이 헷갈립니다. [공정 용법] [1] 17966
6 RIE장비 에서 WALL 과 TOP 온도 20486
5 Dry Etcher 에 대한 교재 [플라즈마 식각 기술] [1] 22632
4 Dry Etch장비에서 Vdc와 Etch rate관계 [플라즈마 및 반응기 임피던스] [1] 22949
3 N2 플라즈마 공정 시간에 따른 Etching rate의 변화 이유가 알고 싶어요 [Cooling과 Etch rate] [2] 23905
2 Dechucking 시 wafer 상의 전하 문제 24294
1 DC Bias Vs Self bias [전자 에너지 분포] [5] 31757

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