학부에서 현재 반도체 공정에 대해 공부를 하고 있는 학생입니다. 

현재 RIE를 통해 oxide가 깔린 웨이퍼를 dry etching 하는 실험을 진행중에 있습니다. 

실험을 통해 oxide를 rf power 75W, 시간은 1분으로 고정시킨후 CF4가스를 10sccm에서 50sccm으로 증가시키면서 etch rate를 측정한 결과 etch rate가 감소하는 결과가 나왔습니다. 제 생각에는 plasma에 있는 이온이 웨이퍼로 이동하는 과정에서 gas의 밀도가 높아져 scattering이 증가해 physical etch가 감소하고 그로 인해 oxide의 bonding이 덜 깨져 radical에 의한 chemical etching도 감소한 것으로 예상되는데 제 생각이 맞는지 궁금합니다.

번호 제목 조회 수
공지 [필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내 [335] 103871
공지 Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법 24755
공지 개인정보 노출 주의 부탁드립니다. 61647
공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 73575
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 106098
36 Dry etch 할 때 센터와 사이드 etch rate [Plasma diffusion과 distribution] [1] 2820
35 Matcher의 효율에 대한 내용에 대해서 궁금합니다. [Matcher와 dynamic impedance] [1] 1796
34 Plasma etch 관련 질문이 드립니다. [Sheath와 uniformity] [1] 1856
33 안녕하세요. O2 plasma etching에 대해 궁금한 것이 있습니다. [Bias power] [1] 8355
» Gas flow rate에 따른 etch rate의 변화가 궁금합니다. [Flow rate와 moral ratio, resident time] [1] 3772
31 압력, 유량과 residence time에 대해 질문있습니다. [MFC와 residence time] [1] 2620
30 HF/F2와 silica 글래스 에칭율 자료가 있을까요? 3228
29 식각 시 나타나는 micro-trench 문제 [소자 식각 데미지] [1] 2549
28 터보펌프 에러관련 [터보 펌프 구동 압력] [1] 2074
27 DRY Etcher Alarm : He Flow 관점 문의 드립니다. [O ring 결합부 근처 leak detect] [1] 2926
26 챔버 임피던스 변화에 따른 공정변화 [Chamber impedance와 공정 드리프트 진단 인자] [1] 1504
25 RIE 공정시에 형성되는 두 효과를 분리해보고 싶습니다. [플라즈마 가속 전자의 충돌 반응] [1] 1152
24 etching에 관한 질문입니다. [충돌 현상 및 이온화 과정] [1] 2711
23 DRAM과 NAND 에칭 공정의 차이 ["플라즈마 식각 기술"] [1] 5959
22 Etch 공정(PE mode) Vpp 변동 관련. [Self bias 형성 과정과 전자의 에너지] [1] 2749
21 PR wafer seasoning [Particle balance, seasoning] [1] 2942
20 wafer 두께가 증가함에 따라 Er이 급격하게 떨어지는 현상 [ER과 self bias] [1] 2287
19 Plasma etcher particle 원인 [Particle issue와 wafer의 sheath] [1] 3654
18 SiO2를 Etching 할 시 NF3 단독 보다 O2를 1:1로 섞을시 Etching이 잘되는 이유 [ER과 energy transport] [1] file 7057
17 안녕하세요 텅스텐 에치에 대해 질문드리겠습니다. 1306

Boards


XE Login