공지 |
[필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내
[321]
| 86444 |
공지 |
Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법
| 22669 |
공지 |
개인정보 노출 주의 부탁드립니다.
| 59375 |
공지 |
kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수
| 71133 |
공지 |
질문하실 때 실명을 사용하여주세요.
[3]
| 98369 |
36 |
Dry etch 할 때 센터와 사이드 etch rate [Plasma diffusion과 distribution]
[1] | 2622 |
35 |
Matcher의 효율에 대한 내용에 대해서 궁금합니다. [Matcher와 dynamic impedance]
[1] | 1630 |
34 |
Plasma etch 관련 질문이 드립니다. [Sheath와 uniformity]
[1] | 1478 |
33 |
안녕하세요. O2 plasma etching에 대해 궁금한 것이 있습니다. [Bias power]
[1] | 7699 |
32 |
Gas flow rate에 따른 etch rate의 변화가 궁금합니다. [Flow rate와 moral ratio, resident time]
[1] | 3504 |
31 |
압력, 유량과 residence time에 대해 질문있습니다. [MFC와 residence time]
[1] | 2351 |
30 |
HF/F2와 silica 글래스 에칭율 자료가 있을까요?
| 3102 |
29 |
식각 시 나타나는 micro-trench 문제 [소자 식각 데미지]
[1] | 2299 |
28 |
터보펌프 에러관련 [터보 펌프 구동 압력]
[1] | 1917 |
27 |
DRY Etcher Alarm : He Flow 관점 문의 드립니다. [O ring 결합부 근처 leak detect]
[1] | 2691 |
26 |
챔버 임피던스 변화에 따른 공정변화 [Chamber impedance와 공정 드리프트 진단 인자]
[1] | 1376 |
25 |
RIE 공정시에 형성되는 두 효과를 분리해보고 싶습니다. [플라즈마 가속 전자의 충돌 반응]
[1] | 1008 |
24 |
etching에 관한 질문입니다. [충돌 현상 및 이온화 과정]
[1] | 2533 |
23 |
DRAM과 NAND 에칭 공정의 차이 ["플라즈마 식각 기술"]
[1] | 5780 |
22 |
Etch 공정(PE mode) Vpp 변동 관련. [Self bias 형성 과정과 전자의 에너지]
[1] | 2572 |
21 |
PR wafer seasoning [Particle balance, seasoning]
[1] | 2831 |
20 |
wafer 두께가 증가함에 따라 Er이 급격하게 떨어지는 현상 [ER과 self bias]
[1] | 2088 |
19 |
Plasma etcher particle 원인 [Particle issue와 wafer의 sheath]
[1] | 3354 |
18 |
SiO2를 Etching 할 시 NF3 단독 보다 O2를 1:1로 섞을시 Etching이 잘되는 이유 [ER과 energy transport]
[1] | 6555 |
17 |
안녕하세요 텅스텐 에치에 대해 질문드리겠습니다.
| 1242 |