안녕하십니까

 

CVD 공정 관련해서 업무를 하고 있는데,

증착 후 챔버 안에 남아있는 막질을 제거하는 Clean 중 궁금한 점이 있어 질문을 쓰게 되었습니다.

 

 

먼저 Clean 시에는

NF3와 Ar을 RPG (Remote Plasma Generator)를 통해 radical과 이온으로 만들어져 챔버로 들어옵니다.

챔버에는 bias가 걸리지 않고 그냥 가스들만 들어옵니다.

 

이때 막질인 SiO2는 F와 반응하여 SiF4로 기상 생성물을 만들어 화학적 에칭으로 제거가 됩니다.

그런데 막질과 달리, 막질 밑에 있는 세라믹인 AlN은 고형 생성물이 생성입니다. 하지만 이 생성물이 계속해서 식각이 되는 것을 파악했는데, 화학적으로는 상변화나 식각이 500-550도 온도에서 불가능해 보여서 혹시 Ar이나 NF*에 의해서 물리적으로 스퍼터링 처럼 식각이 되는 지 궁금합니다.

챔버 압력이 2Torr-6Torr로 높아서 아닌 것 같긴한데, 그거 말고는 떠오르는 게 없습니다.

 

그리고 물리적 식각이라면 400와 550도 그리고 2Torr 와 8Torr에서 식각률 차이가 매우 클까요?

번호 제목 조회 수
공지 [필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내 [314] 80564
공지 Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법 21558
공지 개인정보 노출 주의 부탁드립니다. 58361
공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 69966
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 95166
824 ESC 사용 공정에서 Dummy Wafer Chuck Force 에 대해서 궁급합니다 [1] 59
823 liquid plasma 공부 방향에 대해서 알고싶습니다. [1] 58
822 ICP 장비 TCP Reflect 발생 간 조언 부탁드립니다. [1] 96
821 RF플라즈마에서 quasineutral에 대해 궁금한게 있어 질문글 올립니다.[quasineutral] [1] file 255
820 ICP dry etch 시 공정 문의 사항. [1] 279
819 챔버의 Plasma density 확인방법 문의드립니다. [플라즈마 모니터링, OES, LP] [1] 313
818 ICP/CCP 플라즈마 식각 공정 개발 [Plasma sheath 및 Plasma generation] [1] 322
817 HF PLASMA DEPOSITION 시 POWER에 따른 DEP RATE 변화 [장비 플라즈마, Rate constant] [1] 188
816 인가전압과 ESC의 관계 질문 [Floating sheath] [1] 239
815 Dielectric Etcher(CCP)에서 사용하는 주파수 [Plasma frequency 및 RF sheath] [2] 230
814 ICP에서 biasing 질문 [RF sheath와 self bias] [1] 280
813 가스 조성 및 온도에 따른 식각률 관련 질문입니다. [Arrhenius equation 이해] [1] 205
812 RF sputtering reflect power에 대해서 질문 남깁니다. 142
811 ExB drift 식 유도 과정에서의 질문 [삼각함수의 위상각] [1] 134
810 Debey Length에 대해 문의 드립니다. [플라즈마 정의와 Deybe length] [1] 212
809 플라즈마 식각 공정 중 폴리머의 거동 [재료 표면 반응] [1] 4303
808 플라즈마 사이즈 측정 방법 [플라즈마 분포 측정 및 산포 평가] [1] 221
807 Forward와 Reflect가 계속해서 걸립니다. [RF generator] [2] file 304
806 micro arc에 대해 질문드립니다. [DC glow 방전과 breakdown 전기장] [1] 162
805 Wafer Capacitance 성분과 Vdc 관계 문의드립니다. [Sheath 크기 및 전위 분포] [1] 179

Boards


XE Login