안녕하세요.

반도체 제조회사에 재직중인 엔지니어입니다.

 

텅스텐(W) Etch 을 하고자 하는데,

SF6를 Main Gas로 사용하고자 하는데,

SF6이외에 O2,N2,Ar 을 혼합하여 사용한 논문을 찾을 수 있었습니다.

텅스텐 하부에는 TiN Silicide Layer가 있는데

해당 TiN Silicide 에 Damage를 적게 주고 Loading Effect 가 적은 조건에서 Etch을 하면서

Etchrate 를 높이기 위해서는

 

SF6+N2 / SF6+Ar 중에 어떤 Gas 조건이 더 효과가 있는지 궁금합니다.

추가로 식각시 어떤 차이점이 있는지 알려주시면 감사하겠습니다.

 

번호 제목 조회 수
공지 [필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내 [279] 77000
공지 Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법 20343
공지 개인정보 노출 주의 부탁드립니다. 57265
공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 68809
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 92809
641 Al Dry Etch 후 잔류 Cl 이온 제어를 위한 후처리 방법 [1] 2112
640 식각 가스 사용 챔버의 잔류 flourine cleaning 혹은 conditioning 방법 질문 [1] 1146
639 임피던스 매칭 및 플라즈마 진단 [1] 1287
638 Plasma 식각 test 관련 문의 [1] 3977
637 RF 전압과 압력의 영향? [1] 1697
636 Plasma Cleaning 관련 문의 [1] 1373
635 Uniformity 관련하여 문의드립니다. [1] 1185
634 standing wave effect에 대한 질문이 있습니다. [1] 1665
633 ICP 대기압 플라즈마 분석 [1] 723
632 RF 주파수와 공정 Chamber 크기의 상관관계 [1] 2369
631 IMPEDANCE MATCHING PATH에서 S/H ~ MATCHER 간 전력전송 방법들에 대해 문의드립니다. [2] 1542
630 안녕하세요 DBD 플라즈마 소독 관련질문입니다. [1] 451
» 텅스텐 Etch 관련하여 질문드립니다. [1] 1402
628 ESC 표면 온도랑 식각률의 차이가 어떤 관계로 있는걸까요?? [1] 2116
627 ICP와 CCP는 단순히 플라즈마를 생서하는 방법인가요? [1] 8752
626 CCP 구조가 ICP 구조보다 Arcing 발생에 더 취약한가요? [3] 3577
625 ESC Dechuck과 관련하여 궁금한점이 있어 문의를 드립니다. [1] 14869
624 CVD 막질의 성질에 대해 질문드립니다. [1] 1353
623 전자 온도에 대한 질문이 있습니다. [1] 1020
622 RF 전류가 흐르는 Shower head를 TC로 온도 측정 할 때 [1] 878

Boards


XE Login