PECVD를 이용하여 SiO2를 증착할경우 중심부가 더 증착이 많이되거나 Uniformity가 좋지 않은 것으로 알고있습니다.

 

이를 해결하기위한 방한이 생각보다 잘 나오지 않아서 이렇게 질문드립니다.

 

제 생각에는 

 

1. 전극과 기판사이의 거리를 멀게하여 wafer상의 plasma 균일도 높이기
2. N2와 같은 비활성 기체를 함께 주입하여 precursor를 희석 및 분산시켜 uniformity 높이기
3. 그냥 장착한 뒤, over etch진행하기하기


이러한 방법은 가능한 방법들일까요??

 

다른 방법엔 어떤것들이 있는지 알려주시면 정말 감사하겠습니다

번호 제목 조회 수
공지 [필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내 [303] 78039
공지 Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법 20848
공지 개인정보 노출 주의 부탁드립니다. 57737
공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 69253
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 93635
192 HF PLASMA DEPOSITION 시 POWER에 따른 DEP RATE 변화 [1] update 12
191 ExB drift 식 유도 과정에서의 질문 [삼각함수의 위상각] [1] 45
190 RF sputtering reflect power에 대해서 질문 남깁니다. 48
189 Dielectric Etcher(CCP)에서 사용하는 주파수 [2] 53
188 가스 조성 및 온도에 따른 식각률 관련 질문입니다. [Arrhenius equation 이해] [1] 58
187 플라즈마 식각 커스핑 식각량 77
186 Debey Length에 대해 문의 드립니다. [플라즈마 정의와 Deybe length] [1] 85
185 자성 물질 Etching 시 Process Parameter 질문 [부착물의 흡착 관리] [1] 106
184 Ni DC 스퍼터 관련 질문있습니다. [Base pressure 이해] [1] 113
183 Wafer Capacitance 성분과 Vdc 관계 문의드립니다. [Sheath 크기 및 전위 분포] [1] 137
182 공정 DATA TARGET 간 난제가 있어 문의드립니다. [Sheath uniformity 이해] [1] 148
181 Sputtering을 이용한 film deposition [진공 및 오염입자의 최소화] [1] 213
180 화장품 원료의 플라즈마 처리 문의 [1] file 215
179 FTIR분석을 이용한 SiO2성막 해석 231
178 AP plasma 공정 관련 문의 [OES 활용 장비 플라즈마 데이터 분석] [1] 232
177 Compressive한 Wafer에 대한 질문 [1] 268
176 플라즈마 식각 시 notching 현상 관련 [Ar, O2 플라즈마 생성 특성] [1] 276
175 GWP(Global warming potential)에 따른 Etch gas 변화에 대한 질문 [1] 279
174 Cu migration 방지를 위한 스터디 [전자재료] [1] 280
173 gas에 따른 deposition rate 및 저항질문 있습니다 [박막 문제] [1] 317

Boards


XE Login