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[필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내
[265]
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공지 |
Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법
| 20078 |
공지 |
개인정보 노출 주의 부탁드립니다.
| 57116 |
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kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수
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공지 |
질문하실 때 실명을 사용하여주세요.
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463 |
RPS를 이용한 NF3와 CF4 Etch Rate 차이
[4] | 6201 |
462 |
O2, N2, Ar 플라즈마에 대한 질문입니다.
[2] | 6126 |
461 |
모노실란(SiH4) 분해 메카니즘 문의
| 6046 |
460 |
코로나방전, 이온풍 관련 문의 드립니다.
[1] | 5939 |
459 |
OES를 활용한 excitation temperature 분석 질문입니다.
[1] | 5911 |
458 |
안녕하세요. ICP 플라즈마의 임피던스를 측정하는 방법에 대해서 문의를 드립니다.
[3] | 5870 |
457 |
RF calibration에 대해 질문드립니다.
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456 |
SiO2를 Etching 할 시 NF3 단독 보다 O2를 1:1로 섞을시 Etching이 잘되는 이유
[1] | 5735 |
455 |
RF Vpp 관련하여 문의드립니다.
[1] | 5649 |
454 |
ESC Chuck 기능이 Wafer 위에서의 Chemical Bond 생성을 boosting 할 수 있는지 궁금합니다.
[1] | 5465 |
453 |
DRAM과 NAND에칭 공정의 차이
[1] | 5423 |
452 |
SiO2 식각 위한 Remote Plasma Source관련 질문 드립니다.
[1] | 5185 |
451 |
RF power에 대한 설명 요청드립니다.
[1] | 5117 |
450 |
매쳐에서의 load, tune에 대하여 좀 가르쳐 주세요~
[1] | 5022 |
449 |
Sheath 길이와 전자의 온도 및 MFP간의 관계에 대해 질문 드립니다.
[1] | 4740 |
448 |
CCP 설비에서 Vdc, Vpp과 Power에 대해 문의드립니다.
[1] | 4722 |
447 |
챔버내 Arcing 발생 개선안에 대해 질문드립니다.
[3] | 4365 |
446 |
ESC 사용하는 PVD 에서 Center tap bias의 역할
| 4296 |
445 |
Dry Etching Uniformity 개선 방법
[2] | 4244 |
444 |
플라즈마 색 관찰
[1] | 4194 |