안녕하세요.

반도체 제조회사에 재직중인 엔지니어입니다.

 

텅스텐(W) Etch 을 하고자 하는데,

SF6를 Main Gas로 사용하고자 하는데,

SF6이외에 O2,N2,Ar 을 혼합하여 사용한 논문을 찾을 수 있었습니다.

텅스텐 하부에는 TiN Silicide Layer가 있는데

해당 TiN Silicide 에 Damage를 적게 주고 Loading Effect 가 적은 조건에서 Etch을 하면서

Etchrate 를 높이기 위해서는

 

SF6+N2 / SF6+Ar 중에 어떤 Gas 조건이 더 효과가 있는지 궁금합니다.

추가로 식각시 어떤 차이점이 있는지 알려주시면 감사하겠습니다.

 

번호 제목 조회 수
공지 [필독] QnA 글 작성을 위한 권한 안내 [279] 76978
공지 Q&A 검색 길잡이 – 내게 필요한 정보를 더 빠르게 찾는 방법 20332
공지 개인정보 노출 주의 부탁드립니다. 57254
공지 kr 입자 조사에 의한 Cu 스퍼터링 에너지 및 이탈 속도 분포 함수 68801
공지 질문하실 때 실명을 사용하여주세요. [3] 92795
301 PECVD 공정 진행중 chamber wall 부분에서 보이는 plasma instability 관련 질문 드립니다. [1] 1446
300 Depo시 RF 초기 Reflect 관련하여 문의드립니다. [1] 1442
299 MATCHER 발열 문제 [3] 1441
298 O2 plasma etching 관련 질문이 있습니다. [1] 1439
297 poly식각을 위한 조언 부탁드립니다. file 1427
296 부가적인 스퍼터링 관련 질문 드립니다. [1] 1423
295 OES 분석 관련해서 질문드립니다. [1] 1421
294 플라즈마 관련 교육 [1] 1419
293 dbd-플라즈마 질문있어욤!!!!! [1] file 1409
292 수방전 플라즈마 살균 관련...문의드립니다. [1] 1398
» 텅스텐 Etch 관련하여 질문드립니다. [1] 1396
290 Matcher의 효율에 대한 내용에 대해서 궁금합니다. [1] 1395
289 플라즈마 내에서의 현상 [1] 1394
288 Plasma arcing 관련하여 문의드립니다. [1] 1390
287 [질문] Plasma 장비에 대한 Monitoring 질문 [2] 1382
286 ICP-RIE etch에 관해서 여쭤볼것이 있습니다!! [1] 1380
285 Plasma Cleaning 관련 문의 [1] 1373
284 low pressure 영역에서 아킹이 더 쉽게 발생하는 이유에 관해 문의드립니댜. [1] 1371
283 Langmuir probe의 위치에 관한 질문입니다. [3] 1359
282 CVD 막질의 성질에 대해 질문드립니다. [1] 1353

Boards


XE Login